Invention Grant
- Patent Title: 一种面向模拟IC有源器件的对称约束检测方法及系统
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Application No.: CN202011160909.5Application Date: 2020-10-27
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Publication No.: CN112287633BPublication Date: 2022-05-20
- Inventor: 李琳 , 刘浩杰 , 郭东辉
- Applicant: 厦门大学
- Applicant Address: 福建省厦门市思明区思明南路422号
- Assignee: 厦门大学
- Current Assignee: 厦门大学
- Current Assignee Address: 福建省厦门市思明区思明南路422号
- Agency: 厦门福贝知识产权代理事务所
- Agent 陈远洋
- Main IPC: G06F30/398
- IPC: G06F30/398
Abstract:
本发明给出了一种面向模拟IC有源器件的对称约束检测方法及系统,包括根据模拟IC的网表,对两个MOS器件之间的连接权重使用变量表示并对变量进行赋值,根据网表中两个MOS器件之间的连接状态使用所述变量进行编码,得到器件互连矢量,根据预设的初层基块互连矢量编码查找表识别出模拟IC初层基块的对称约束关系;根据得到的初层基块检测得到两两相邻的初层基块,求出两个相邻的初层基块的互连矢量,并根据预设的高层基块互连矢量编码查找表检测出模拟IC中高层基块中具有对称约束的器件组。本发明能在模拟IC网表层级中有效的检测出模拟IC中有源器件的对称约束,对于模拟IC版图设计提供了更加准确的对称约束指导。
Public/Granted literature
- CN112287633A 一种面向模拟IC有源器件的对称约束检测方法及系统 Public/Granted day:2021-01-29
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