发明公开
- 专利标题: 基于低频噪声的元器件状态检测装置和方法
-
申请号: CN202011181611.2申请日: 2020-10-29
-
公开(公告)号: CN112305329A公开(公告)日: 2021-02-02
- 发明人: 陈云霞 , 郑舒文 , 卢震旦 , 余昌博 , 刁泉贺 , 仵若玙 , 张丛然
- 申请人: 北京航空航天大学
- 申请人地址: 北京市海淀区学院路37号
- 专利权人: 北京航空航天大学
- 当前专利权人: 北京航空航天大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区学院路37号
- 代理机构: 北京孚睿湾知识产权代理事务所
- 代理商 韩燕
- 主分类号: G01R29/26
- IPC分类号: G01R29/26
摘要:
本发明提供一种基于低频噪声的元器件状态检测装置和方法,其包括依次连接的低频噪声采集电路、嵌入式系统和上位机;其中低频噪声采集电路由高低频组合滤波电路和并联低噪声运算放大器组成;嵌入式系统包括模拟信号采样电路、模拟‑数字转换模块、内部存储器、初步分析波形绘制模块和示波器;上位机包括上位机存储器、故障筛选模块、预测模块、频域分析模块、计算模块和可视化界面模块。低频噪声采集电路采集低频噪声并发送至嵌入式系统;低频噪声通过嵌入式系统转换为低频噪声数字信号;上位机接收低频噪声数字信号进行保存并处理,得到元器件状态。本申请实现了对低频噪声信号的检测,并利用低频噪声信号对元器件故障进行筛选与预测。
公开/授权文献
- CN112305329B 基于低频噪声的元器件状态检测装置和方法 公开/授权日:2021-12-24