发明授权
- 专利标题: 一种非接触式跨障碍的高密度测量方法
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申请号: CN202011193982.2申请日: 2020-10-30
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公开(公告)号: CN112305624B公开(公告)日: 2024-02-06
- 发明人: 唐小平 , 郭培虹 , 刘生荣 , 田中英 , 杜辉 , 白运 , 孙芳强
- 申请人: 中国地质调查局西安地质调查中心(西北地质科技创新中心)
- 申请人地址: 陕西省西安市碑林区友谊东路438号
- 专利权人: 中国地质调查局西安地质调查中心(西北地质科技创新中心)
- 当前专利权人: 中国地质调查局西安地质调查中心(西北地质科技创新中心)
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市碑林区友谊东路438号
- 代理机构: 北京易捷胜知识产权代理有限公司
- 代理商 韩国胜
- 主分类号: G01V3/38
- IPC分类号: G01V3/38
摘要:
本发明涉及一种非接触式跨障碍的高密度测量方法,其包括:首先,根据拟解决的地质问题与区域地质条件进行测线线路设计,并结合现场踏勘数据测量障碍物宽度与设定障碍物宽度区间;其次,搭建基础数据采集系统与跨障碍数据采集系统;接着,进行跨障碍数据采集系统转换与导入检查,最后根据导入的跨障碍数据采集系统,进行野外布线,使其满足高密度数据采集要求后,开展数据采集即可获取跨障碍高密度数据。本发明自主设计数据采集系统以规避因大障碍物出现的空道或接触如河流、水泥地面等电阻率与自然电位异常区域;同时,提出近地表非均匀性校正技术以处理因跨越小障碍物或近地表存在自然电位不均匀体而引起的电阻率剖面数
公开/授权文献
- CN112305624A 一种非接触式跨障碍的高密度测量方法 公开/授权日:2021-02-02