Invention Grant
- Patent Title: 一种磁阻元件测试工装和测试系统
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Application No.: CN202011164810.2Application Date: 2020-10-27
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Publication No.: CN112345806BPublication Date: 2024-03-15
- Inventor: 李求洋 , 张蓬鹤 , 徐英辉 , 陈思禹 , 熊素琴 , 袁翔宇 , 张保亮
- Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国家电网有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区清河小营东路15号;
- Assignee: 中国电力科学研究院有限公司,国家电网有限公司
- Current Assignee: 中国电力科学研究院有限公司,国家电网有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区清河小营东路15号;
- Agency: 北京工信联合知识产权代理有限公司
- Agent 夏德政
- Main IPC: G01R1/04
- IPC: G01R1/04

Abstract:
本申请公开了一种磁阻元件的测试工装和测试系统,测试工装包括工装本体和压紧机构。工装本体包括工作面和探针,工作面配置成承载磁阻元件,探针配置成与置于工作面的磁阻元件的引脚相对设置,并在测试时与外部测试装置连接。压紧机构包括压紧面,压紧面配置成压紧置于工作面的磁阻元件,且使得探针与引脚接触。通过本申请的测试工装,在对磁阻元件进行测试时,无需将测试线路与磁阻元件进行电线连接,从而省去了接线、拆线操作,使得磁阻元件的测试操作更简单,同时,降低了人工操作过多带来的不稳定性,使得磁阻元件的测试结果更准确。
Public/Granted literature
- CN112345806A 一种磁阻元件测试工装和测试系统 Public/Granted day:2021-02-09
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