Invention Grant
- Patent Title: 一种电子产品测试过程结构化描述方法
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Application No.: CN202011162746.4Application Date: 2020-10-27
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Publication No.: CN112415301BPublication Date: 2022-07-15
- Inventor: 舒武静 , 邓乐武 , 莫文静 , 胡际东 , 李佳璇
- Applicant: 成都飞机工业(集团)有限责任公司
- Applicant Address: 四川省成都市青羊区黄田坝
- Assignee: 成都飞机工业(集团)有限责任公司
- Current Assignee: 成都飞机工业(集团)有限责任公司
- Current Assignee Address: 四川省成都市青羊区黄田坝
- Agency: 成都天嘉专利事务所
- Agent 赵凯
- Main IPC: G01R31/00
- IPC: G01R31/00
Abstract:
本发明公开了一种电子产品测试过程结构化描述方法,属于产品测试技术领域,其特征在于,包括以下步骤:a、对测试过程设计进行定义与表达;b、将分离的测试单元按照顺序、并序或无序的排序方式之一进行组合;c、测试单元顺序组合时,根据上一测试单元的输出结果组合,限定输出结果影响下一执行测试单元的判断或测试组的输出结果的判断,测试单元并序和无序组合时,限定故障字典影响测试组的输出结果的判断,输出结果的判断用于关联故障模式。本发明能够解决典型机载系统测试过程描述结构化问题,实现测试过程信息准确传递和共享,达到测试设计和测试执行的协同。
Public/Granted literature
- CN112415301A 一种电子产品测试过程结构化描述方法 Public/Granted day:2021-02-26
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