Invention Grant
- Patent Title: 基于多通道多维特征优化的脑电眨眼伪迹检测方法
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Application No.: CN202011485932.1Application Date: 2020-12-16
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Publication No.: CN112464902BPublication Date: 2024-02-09
- Inventor: 曹九稳 , 王建辉 , 胡丁寒 , 蒋铁甲 , 高峰
- Applicant: 杭州电子科技大学
- Applicant Address: 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街
- Assignee: 杭州电子科技大学
- Current Assignee: 杭州电子科技大学
- Current Assignee Address: 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街
- Agency: 杭州君度专利代理事务所
- Agent 朱月芬
- Main IPC: G06F18/2411
- IPC: G06F18/2411 ; G06F18/10 ; G06F18/213 ; G06F18/214 ; G06F18/25 ; G16H50/20

Abstract:
本发明公开了一种基于多通道多维特征优化的脑电眨眼伪迹检测方法,首先对多通道脑电EEG信号进行滤波处理以及类别划分;然后对处理后的多通道脑电EEG信号进行16维特征提取;针对提取到的16维特征,采用方差过滤式方法做特征选择;再通过支持向量机算法构建针对眨眼伪迹和非眨眼伪迹样本数据集的伪迹检测模型;最后通过建立的伪迹检测模型进行脑电眨眼伪迹检测。本发明既可以克服临床脑电EEG信号多通道数据损坏问题,又可以解决现有模型复杂性高实时性低的问题,还能够实现眨眼伪迹的精准自动化检测。
Public/Granted literature
- CN112464902A 基于多通道多维特征优化的脑电眨眼伪迹检测方法 Public/Granted day:2021-03-09
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