Invention Grant
- Patent Title: 考虑绝缘劣化的GIS局部放电特征参数提取方法
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Application No.: CN202011226040.XApplication Date: 2020-11-05
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Publication No.: CN112485610BPublication Date: 2024-02-02
- Inventor: 杨旭 , 张静 , 陈佳 , 徐惠 , 许晓路 , 刘诣 , 文豪 , 周文
- Applicant: 国网电力科学研究院有限公司 , 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司
- Applicant Address: 江苏省南京市南京江宁经济技术开发区诚信大道19号
- Assignee: 国网电力科学研究院有限公司,国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司
- Current Assignee: 国网电力科学研究院有限公司,国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司
- Current Assignee Address: 江苏省南京市南京江宁经济技术开发区诚信大道19号
- Agency: 武汉开元知识产权代理有限公司
- Agent 李满; 潘杰
- Main IPC: G01R31/12
- IPC: G01R31/12

Abstract:
本发明所设计的考虑绝缘劣化的GIS局部放电特征参数提取方法,包括如下步骤:步骤1、采用阶段升压方式对置于SF6气体中典型GIS绝缘缺陷进行2次局部放电重复性试验;步骤2:构建由不同气体之间的浓度比值构成的特征参数集合Q;步骤3:利用mRMR算法对特征参数集合Q中的特征参数进行特征选择,得到这些特征参数的优先级排序,按排序依次选择前j个特征参数重新构建l个集合Qj;步骤4:利用反向传播神经网络构建绝缘缺陷识别模型,得到最优局部放电特征参数集合。本发明能得到用于绝缘缺陷识别的精简有效的特征参数组合和较为准确的识别效果。
Public/Granted literature
- CN112485610A 考虑绝缘劣化的GIS局部放电特征参数提取方法 Public/Granted day:2021-03-12
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