本发明公开了一种利用扩展I2C协议调试芯片的方法、存储介质、电子设备，该方法包括：扩展I2C协议至通信时隙外，定义一个调试状态：开始和停止调试的条件是保持SDA高电平，且SCL分别为高‑低电平切换和低‑高电平切换，在调试状态下对芯片进行调试；在I2C接口空闲时利用SCL处于高电平的特性作为输入，结合逻辑电路隔离I2C接口。本发明利用扩展I2C协议调试芯片的方法通过扩展I2C协议至通信时隙外，定义一个调试状态，在该调试状态下可以进行芯片调试而不影响I2C已经写入寄存器的值，同时，利用I2C接口本身的上拉电阻，不需要额外管脚，完成芯片使用时隔离I2C接口的要求，降低了设计复杂度和系统成本。