本发明涉及电磁场与微波技术领域，目的是为了解决现有相控阵天线‑天线罩电性能测试技术测试效率低，差错概率大的问题，提供一种相控阵天线‑天线罩电性能测试装置及方法。所述装置的发射信号源通过发射天线发射波束，相控阵天线和被测天线罩安装在测试工装上，测试工装安装在转台上，转台控制系统用于控制转台转动，波控机用于控制相控阵天线的接收方向；转台控制系统的触发信号输出端连接波控机的触发信号输入端。所述测试方法为：每当所述转台转动到一个测试角度时，通过波控机控制所述相控阵天线的接收方向沿所述转台转动的反方向转动，并且，所述相控阵天线的接收方向的转动角度与所述转台的转动角度相等。