发明授权
- 专利标题: 自动分析装置
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申请号: CN201980054566.3申请日: 2019-11-14
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公开(公告)号: CN112585473B公开(公告)日: 2024-01-12
- 发明人: 八木贤一 , 三宅雅文 , 朝田沙耶佳
- 申请人: 株式会社日立高新技术
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理商 曾贤伟; 范胜杰
- 优先权: 2018-231519 2018.12.11 JP
- 国际申请: PCT/JP2019/044679 2019.11.14
- 国际公布: WO2020/121726 JA 2020.06.18
- 进入国家日期: 2021-02-19
- 主分类号: G01N35/00
- IPC分类号: G01N35/00
摘要:
本发明实现一种自动分析装置,其通过自动地监视使用了清洗架的清洗实施状况,而能够正常地维持装置状况并发挥稳定的性能。自动分析装置具备:分析检体的至少一个分析部(5~8);架投入部(1),其至少投入保持检体的检体架将投入到架投入部(1)的至少所述检体架(92)和清洗架输送到分析部(5~8);整体管理控制部(11),其对分析部(5~8)、架投入部(1)、以及输送机构(3)的动作进行控制。整体管理控制部(11)将清洗架输送到分析部(5~8),利用清洗架所保持的清洗液进行被输送有清洗架的分析部(5~8)的清洗动作,在基于清洗动作而将分析部(5~8)的性能判定为正常之前,使被输送有清洗架的分析部(5~8)的检体分析动作停止。(92)以及保持清洗液的清洗架;输送机构(3),其
公开/授权文献
- CN112585473A 自动分析装置 公开/授权日:2021-03-30