发明授权
- 专利标题: 氧化镓SBD的制备方法及结构
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申请号: CN202011379689.5申请日: 2020-11-30
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公开(公告)号: CN112614781B公开(公告)日: 2023-01-17
- 发明人: 王元刚 , 吕元杰 , 孙肇峰 , 敦少博 , 刘宏宇 , 周幸叶 , 梁士雄 , 冯志红
- 申请人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 申请人地址: 河北省石家庄市合作路113号
- 专利权人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 当前专利权人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 当前专利权人地址: 河北省石家庄市合作路113号
- 代理机构: 石家庄国为知识产权事务所
- 代理商 付晓娣
- 主分类号: H01L21/329
- IPC分类号: H01L21/329 ; H01L29/872 ; H01L29/24 ; H01L29/06
摘要:
本发明公开了一种氧化镓SBD的制备方法及结构,属于半导体制造技术领域,一种氧化镓SBD的制备方法,包括N+高浓度衬底,生长在N+高浓度衬底上的N‑低浓度氧化镓外延层,通过在N‑低浓度氧化镓外延层上淀积第一掩膜层和第二掩膜层,然后刻蚀形成凹槽,在凹槽上生长P型异质层,最后制备阴极和阳极。所述氧化镓SBD结构包括N+高浓度衬底,生长在N+高浓度衬底上的N‑低浓度氧化镓,在N‑低浓度氧化镓上设有凹槽,凹槽内有P型异质层,最后制备阴极和阳极。本发明提供的制备氧化镓SBD的方法,采用双层掩膜,通过湿法处理修复刻蚀损伤,提高了器件的击穿特性。
公开/授权文献
- CN112614781A 氧化镓SBD的制备方法及结构 公开/授权日:2021-04-06
IPC分类: