- 专利标题: 一种基于分子结构参数的SF6替代气体寻找方法
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申请号: CN202011561991.2申请日: 2020-12-25
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公开(公告)号: CN112634998B公开(公告)日: 2022-08-30
- 发明人: 尤天鹏 , 周文俊 , 郑宇 , 李涵
- 申请人: 武汉大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
- 专利权人: 武汉大学
- 当前专利权人: 武汉大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
- 代理机构: 武汉科皓知识产权代理事务所
- 代理商 彭艳君
- 主分类号: G16C20/50
- IPC分类号: G16C20/50 ; G16C20/70 ; G06N3/04 ; G06N3/08
摘要:
本发明涉及SF6替代气体寻找方法,具体涉及一种基于分子结构参数的SF6替代气体寻找方法,建立环保绝缘气体的分子结构参数模型,以静电势0.001a.u.通过公式进行计算;算法优化;将计算出的环保绝缘气体分子的表面静电势、分子结构参数输入至神经网络的模型中,作为输入端,通过黑盒模型得到该结构参数与介电强度的关系;根据所得到分子结构参数与介电强度的关系,通过删减分子结构参数的个数,得到分子结构参数与介电强度的相关系数,对比两种缺少参数的公式的法线向量,判断这两种参量是否为相关参量,若为相关参量,则一个参量表征两个参数对介电强度的影响。该方法能更加准确、快速地寻找SF6替代气体。
公开/授权文献
- CN112634998A 一种基于分子结构参数的SF6替代气体寻找方法 公开/授权日:2021-04-09