Invention Grant
- Patent Title: 投影校正方法、装置、存储介质及电子设备
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Application No.: CN202110297235.1Application Date: 2021-03-19
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Publication No.: CN112689135BPublication Date: 2021-07-02
- Inventor: 孙世攀 , 张聪 , 胡震宇
- Applicant: 深圳市火乐科技发展有限公司
- Applicant Address: 广东省深圳市南山区科技园中区科苑路15号科兴科学园B栋4单元10层01号
- Assignee: 深圳市火乐科技发展有限公司
- Current Assignee: 深圳市火乐科技发展有限公司
- Current Assignee Address: 广东省深圳市南山区科技园中区科苑路15号科兴科学园B栋4单元10层01号
- Agency: 北京英创嘉友知识产权代理事务所
- Agent 李柯莹
- Main IPC: H04N9/31
- IPC: H04N9/31

Abstract:
本公开涉及一种投影校正方法、装置、存储介质及电子设备,涉及投影技术领域,该方法包括:通过摄像头采集投影仪投射的预设图像,得到拍摄图像;在该拍摄图像中确定目标特征点,并针对每一目标特征点,确定该目标特征点在所述摄像头的拍摄空间中的深度信息,以得到该目标特征点的三维坐标;进而根据所有目标特征点的三维坐标,确定由所有目标特征点构建的拟合平面的法向量,并根据法向量和投影仪的当前位姿信息来对投影仪的原始图像进行校正。本公开的有益效果是:通过一个摄像头即可实现投影梯形校正,不仅减少了器件的设置数量,同时可以快速计算出目标特征点的深度信息,降低了计算目标特征点的三维坐标的复杂度。
Public/Granted literature
- CN112689135A 投影校正方法、装置、存储介质及电子设备 Public/Granted day:2021-04-20
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