- 专利标题: 一种用于LCD逻辑板基板的耐压强度探测装置及方法
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申请号: CN202011608256.2申请日: 2020-12-29
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公开(公告)号: CN112697591B公开(公告)日: 2021-08-31
- 发明人: 杨露 , 郑惠杰 , 梁伟坚
- 申请人: 深圳市韦德勋光电科技有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市宝安区福海街道和平社区重庆路194号科上美科技园D栋201
- 专利权人: 深圳市韦德勋光电科技有限公司
- 当前专利权人: 深圳市韦德勋光电科技有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市宝安区福海街道和平社区重庆路194号科上美科技园D栋201
- 代理机构: 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司
- 代理商 李明香
- 主分类号: G01N3/08
- IPC分类号: G01N3/08 ; G01N3/02 ; G01N3/04
摘要:
本发明涉及LCD逻辑板技术领域,且公开了一种用于LCD逻辑板基板的耐压强度探测装置,通过第一圆盘、第二圆盘、推杆和夹板的配合使用,使得在进行逻辑板基板耐压探测时,可以自动进行夹持,且完成探测后自动松开,从而保证基板的探测时的稳定性,从而提高试验结果的准确性,通过负压室、活塞、回收仓和回收通道的配合使用,使得在完成耐压探测后,自动产生负压,将耐压探测过程中产生的碎屑自动进行回收,更加的省时省力,提高耐压探测实验的工作效率,通过第二圆盘、第一转盘和第二转盘的配合使用,使得在进行耐压探测时,将自动夹持和碎屑的自动回收两个步骤进行联动,从而增加整个装置的联动性,使得操作更加的简单。
公开/授权文献
- CN112697591A 一种用于LCD逻辑板基板的耐压强度探测装置及方法 公开/授权日:2021-04-23