- 专利标题： 温度测定装置、温度测定系统和温度测定方法
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申请号： CN201980059870.7申请日： 2019-09-11
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公开(公告)号： CN112714863B公开(公告)日： 2023-08-29
- 发明人: 小川润一 , 宫崎俊一
- 申请人： 横河电机株式会社
- 申请人地址： 日本东京都
- 专利权人： 横河电机株式会社
- 当前专利权人： 横河电机株式会社
- 当前专利权人地址： 日本东京都
- 代理机构： 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司
- 代理商 李成必; 李雪春
- 国际申请： PCT/JP2019/035778 2019.09.11
- 国际公布： WO2020/054785 JA 2020.03.19
- 进入国家日期： 2021-03-12
- 主分类号： G01K11/12
- IPC分类号： G01K11/12
摘要：
本发明提供温度测定装置(10)，具备：第一照射部(11a)，向化学反应系统(20)所含物质照射脉冲状的激发光(L1)；第二照射部(11b)，向物质照射探测光(L2)；检测部(12)，检测由第二照射部(11b)向物质照射后的探测光(L2)；以及控制部(15)，根据检测部(12)检测的探测光(L2)的检测强度的相关信息，计算化学反应系统(20)所含物质的温度。
公开/授权文献
- CN112714863A 温度测定装置、温度测定系统和温度测定方法 公开/授权日：2021-04-27
