- 专利标题: 基于确定学习与插值算法的分布参数系统全局辨识方法
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申请号: CN202011585105.X申请日: 2020-12-28
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公开(公告)号: CN112733075A公开(公告)日: 2021-04-30
- 发明人: 董训德 , 王聪
- 申请人: 华南理工大学
- 申请人地址: 广东省广州市南沙区环市大道南路25号华工大自动化科学与工程学院
- 专利权人: 华南理工大学
- 当前专利权人: 华南理工大学
- 当前专利权人地址: 广东省广州市南沙区环市大道南路25号华工大自动化科学与工程学院
- 代理机构: 广州粤高专利商标代理有限公司
- 代理商 何淑珍; 江裕强
- 主分类号: G06F17/13
- IPC分类号: G06F17/13 ; G06F17/11
摘要:
本发明公开了基于确定学习与插值算法的分布参数系统全局辨识方法。所述方法包括以下步骤:使用有限差分方法中的直线法(method of lines)对由偏微分方程描述的分布参数系统,对其在空间上进行离散,将其转化为一组常微分方程组;基于确定学习对分布参数系统降维后得到的常微分方程组进行系统辨识,实现对分布参数系统在有限个空间离散点上的准确辨识;基于有限个空间离散点上系统动态的辨识结果,采用插值方法对除前述的空间离散点以外的其他任意空间点上的系统动态进行近似,进而实现对分布参数系统的全局辨识。本发明部分解决了分布参数系统辨识中持续激励条件的满足,保证对降维后的常微分方程组的准确辨识。
公开/授权文献
- CN112733075B 基于确定学习与插值算法的分布参数系统全局辨识方法 公开/授权日:2024-04-19