- 专利标题: 一种光谱参数获取方法、装置、电子设备及存储介质
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申请号: CN202110114340.7申请日: 2021-01-27
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公开(公告)号: CN112782109B公开(公告)日: 2023-07-04
- 发明人: 郭瑞民 , 李东 , 董贺伟
- 申请人: 中国计量科学研究院 , 中计华量环境科技河北有限公司
- 申请人地址: 北京市朝阳区北三环东路18号;
- 专利权人: 中国计量科学研究院,中计华量环境科技河北有限公司
- 当前专利权人: 中国计量科学研究院,中计华量环境科技河北有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区北三环东路18号;
- 代理机构: 北京超凡宏宇专利代理事务所
- 代理商 衡滔
- 主分类号: G01N21/31
- IPC分类号: G01N21/31 ; G06F17/18
摘要:
本申请公开一种光谱参数获取方法、装置、电子设备及存储介质,涉及光学领域。该方法包括获取多组光谱数据,每组光谱数据对应的压力不同,其中,每组光谱数据包括在不同频率下测量的实测吸收系数;针对每一组光谱数据,基于该组光谱数据获取预设的吸收系数表达式中所需的输入参数,其中,该表达式中包括用于表征吸收系数的归一化线型函数项;将从每一组光谱数据获得对应的输入参数带入预设的吸收系数表达式,并利用最小二乘法对带入预设输入参数的吸收系数表达式进行拟合,输出光谱参数。通过本方案可以降低不同光谱参数之间的相关性,使得基于本方案获得的光谱参数可以准确地描述测量得到的光谱数据。
公开/授权文献
- CN112782109A 一种光谱参数获取方法、装置、电子设备及存储介质 公开/授权日:2021-05-11
IPC分类: