Invention Grant
- Patent Title: 基于water-MTLF方法对超疏水气膜层厚度的测量装置及测量方法
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Application No.: CN202011634776.0Application Date: 2020-12-31
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Publication No.: CN112833798BPublication Date: 2021-11-05
- Inventor: 蔡楚江 , 乔帅 , 陈文欣 , 潘翀 , 刘彦鹏
- Applicant: 北京航空航天大学
- Applicant Address: 北京市海淀区学院路37号
- Assignee: 北京航空航天大学
- Current Assignee: 北京纳森优新科技发展有限公司
- Current Assignee Address: 100094 北京市海淀区北清路68号院24号楼D座4层550
- Agency: 北京永创新实专利事务所
- Agent 冀学军
- Main IPC: G01B11/06
- IPC: G01B11/06
Abstract:
本发明公开了一种基于water-MTLF方法对超疏水气膜层厚度的测量装置及测量方法,该测量装置包括定位测量皿、防浸润丝线、升降控制步进电机、电机支撑平台、水平移动平台和液面高度测量仪。与之匹配的测量方法是先测量水中超疏水气膜层的厚度,然后测量硅油中超疏水气膜层的厚度,两者相减可以得到超疏水气膜层的厚度。相比于CLSM技术和Micro-PIV技术的测量方法,本发明对超疏水表面的测量范围更大,能够测量表面积不小于100mm×100mm,测量精度为10nm。测量过程对操作人员的专业水平要求更低。
Public/Granted literature
- CN112833798A 基于water-MTLF方法对超疏水气膜层厚度的测量装置及测量方法 Public/Granted day:2021-05-25
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