发明公开
- 专利标题： 基于层理发育储层的约束滤波校正电阻率的方法
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申请号： CN202110219342.2申请日： 2021-02-26
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公开(公告)号： CN112882112A公开(公告)日： 2021-06-01
- 发明人: 廖勇 , 曾芙蓉 , 李光泉 , 田海涛 , 陈四平 , 冯爱国 , 蒋恕 , 饶海涛 , 沈金才 , 何浩然 , 石文睿 , 张新华 , 季运景 , 曾保林 , 石元会 , 陈国辉 , 汪钰波 , 叶鑫
- 申请人： 中国石油化工集团有限公司 , 中石化石油工程技术服务有限公司 , 中石化江汉石油工程有限公司 , 中石化江汉石油工程有限公司测录井公司
- 申请人地址： 北京市朝阳区朝阳门北大街22号; ; ;
- 专利权人： 中国石油化工集团有限公司,中石化石油工程技术服务有限公司,中石化江汉石油工程有限公司,中石化江汉石油工程有限公司测录井公司
- 当前专利权人： 中国石油化工集团有限公司,中石化石油工程技术服务有限公司,中石化江汉石油工程有限公司,中石化江汉石油工程有限公司测录井公司
- 当前专利权人地址： 北京市朝阳区朝阳门北大街22号; ; ;
- 代理机构： 武汉开元知识产权代理有限公司
- 代理商 涂洁
- 主分类号： G01V3/18
- IPC分类号： G01V3/18 ; G01V3/38
摘要：
本发明公开了一种基于层理发育储层的约束滤波校正电阻率的方法，解决了现有层理发育储层的电阻率往往呈现低阻尖峰状，严重影响西门杜公式计算含水饱和度的精度。方法包括1)获取待计算井层理发育储层段的测井资料；2)计算滤波偏移系数RTFO；3)得到校正后的电阻率RTT和4)输出计算结果。本发明方法能够有效校正层理发育储层的电阻率，为层理发育储层的含水饱和度精细计算提供关键参数，操作简便、适用范围广。
公开/授权文献
- CN112882112B 基于层理发育储层的约束滤波校正电阻率的方法 公开/授权日：2023-05-26
