本发明涉及分子快速检测技术领域，具体涉及一种用于生产快速检测芯片的表征方法，包括阻抗检测质控步骤：固定有包被分子的电极片相对于未固定包被分子的电极片，在特定阻抗扫描频率下，电容变化率为‑50～150%，或者阻抗变化率为‑100～100%，或者相位变化率为‑30～30%，或者电阻分量变化率为‑40～40%，或者电感分量变化率为‑200～200%。本方案解决了现有技术中尚无一个切实可行的对芯片进行表征和质量评价的方法的技术问题。通过本方案可以有的排除不合格芯片，提升获得的成品芯片的质量。本方案的表征方法可以用于基于电加速的快速检测芯片的研发、生产、质控等实践操作中。