- 专利标题: 一种用于温度测量系统进行全系统宽低温综合校准设备的隔热腔
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申请号: CN202110331756.4申请日: 2021-03-29
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公开(公告)号: CN113049144B公开(公告)日: 2024-04-09
- 发明人: 褚卫华 , 贾军伟 , 顾正华 , 刘展 , 张文清 , 柴昊 , 杨兆欣 , 郎昊 , 赵少美 , 李峥
- 申请人: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所 , 北京东方计量测试研究所
- 申请人地址: 四川省绵阳市涪城区二环路6号;
- 专利权人: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所,北京东方计量测试研究所
- 当前专利权人: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所,北京东方计量测试研究所
- 当前专利权人地址: 四川省绵阳市涪城区二环路6号;
- 代理机构: 绵阳山之南专利代理事务所
- 代理商 沈强
- 主分类号: G01K15/00
- IPC分类号: G01K15/00
摘要:
本发明提供了一种用于温度测量系统进行全系统宽低温综合校准设备的隔热腔,该方案采用制冷机制冷和加热器加热综合控温方式,隔热校准腔采用三层结构,中层外层真空隔热,内层作为校准温度源,放置传感器安装铜座,通过充氦实现温度场快速均匀。在校准过程中,温度传感器带线缆穿过密封座后,置于校准腔内的传感器安装铜座内,然后对导线实行密封,中外层抽真空隔热,内层充氦。准备就绪后,在测控机柜控制下,按照校准流程实施制冷机和加热器校准腔温度控制,达到校准目标温度值后,温度测量系统采集校准温度点的电流或电压值。按流程所有校准点完成后进行校准曲线拟合,得到温度测量系统测量范围内的校准曲线。
公开/授权文献
- CN113049144A 一种用于温度测量系统进行全系统宽低温综合校准设备的隔热腔 公开/授权日:2021-06-29