发明授权
- 专利标题： 一种基于探测器的高温目标检测方法及装置
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申请号： CN202110286080.1申请日： 2021-03-17
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公开(公告)号： CN113063503B公开(公告)日： 2022-11-22
- 发明人: 刘大河 , 施薛优 , 陈光毅 , 李克之
- 申请人： 北京安酷智芯科技有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区海淀西大街36号二层北侧201室051号
- 专利权人： 北京安酷智芯科技有限公司
- 当前专利权人： 北京安酷智芯科技有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区海淀西大街36号二层北侧201室051号
- 代理机构： 北京墨丘知识产权代理事务所
- 代理商 代峰; 谷轶楠
- 主分类号： G01J5/10
- IPC分类号： G01J5/10 ; G01J5/48 ; G08B21/00
摘要：
本发明公开了一种基于探测器的高温目标检测方法及装置，涉及红外热成像设备技术领域。其中，基于探测器的高温目标检测方法包括：当检测到探测器的像素输出值达到预设饱和值时，检测所述探测器内的像素；若检测到像素持续朝相同方向处于饱和状态时，所述像素为单向饱和像素；若检测到单向饱和像素，则对所述单向饱和像素执行偏移校正或者增益调整操作；若经过所述偏移校正或者增益调整操作后，所述探测器的像素输出值仍持续处于饱和状态，则启动保护机制。
公开/授权文献
- CN113063503A 一种基于探测器的高温目标检测方法及装置 公开/授权日：2021-07-02