发明公开
- 专利标题: 一种地外天体的钻表异构式采样系统及方法
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申请号: CN202110212607.6申请日: 2021-02-25
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公开(公告)号: CN113092158A公开(公告)日: 2021-07-09
- 发明人: 邓湘金 , 金晟毅 , 郑燕红 , 赵志晖 , 姚猛 , 杨孟飞 , 彭兢 , 李青 , 史伟 , 李晟
- 申请人: 北京空间飞行器总体设计部
- 申请人地址: 北京市海淀区友谊路104号
- 专利权人: 北京空间飞行器总体设计部
- 当前专利权人: 北京空间飞行器总体设计部
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区友谊路104号
- 代理机构: 北京理工大学专利中心
- 代理商 廖辉; 仇蕾安
- 主分类号: G01N1/08
- IPC分类号: G01N1/08
摘要:
本发明公开了一种地外天体的钻表异构式采样系统及方法,系统包括:装在地外天体采样航天器上的钻探采样模块、铲挖采样模块、样品封装模块和环境感知及视觉监测模块,铲挖采样模块与钻探采样模块对侧安装,样品封装模块在铲挖采样模块和钻探采样模块之间,环境感知及视觉监测模块的位置由铲挖采样模块、钻探采样模块和样品封装模块确定;方法为:钻探采样模块用于获取地外天体表层下方设定深度内的次表层土壤,铲挖采样模块用于获取地外天体表层土壤样品,二者采集到的样品均转移至样品封装模块中;环境感知及视觉监测模块,一用于获取钻探采样和铲挖采样的采样区地形结构,二用于对钻探采样、铲挖采样、样品封装以及样品转移过程进行视觉监测。
公开/授权文献
- CN113092158B 一种地外天体的钻表异构式采样系统及方法 公开/授权日:2023-08-25