- 专利标题： 一种基于余数匹配的光学欠采样频率恢复方法
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申请号： CN202110294565.5申请日： 2021-03-19
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公开(公告)号： CN113138313B公开(公告)日： 2022-04-08
- 发明人: 谢树果 , 杨燕 , 王天恒 , 田雨墨 , 王铁凝
- 申请人： 北京航空航天大学
- 申请人地址： 北京市海淀区学院路37号
- 专利权人： 北京航空航天大学
- 当前专利权人： 北京航空航天大学
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区学院路37号
- 代理机构： 北京航智知识产权代理事务所
- 代理商 黄川; 史继颖
- 主分类号： G01R29/12
- IPC分类号： G01R29/12 ; G01R23/02
摘要：
本发明公开了一种基于余数匹配的光学欠采样频率恢复方法，通过研究待测频率余数的特点，总结了重频、待测频率最大值、接收机测量误差和系统错误率之间的关系，并设计了频率计算程序。本发明的算法对欠采样重频差的大小具有普适性，不仅可以应用于实验室精确控制的小重频差的情况，还可以应用于定频光源重频差较大的情况，对于实现野外电场快速测量具有重要意义。
公开/授权文献
- CN113138313A 一种基于余数匹配的光学欠采样频率恢复方法 公开/授权日：2021-07-20
