- 专利标题: 一种用于USB线缆的高效集成测试方法和测试仪
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申请号: CN202110381599.8申请日: 2021-04-09
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公开(公告)号: CN113138317B公开(公告)日: 2022-01-11
- 发明人: 马燕 , 江辉 , 黄锦龙 , 刘旭
- 申请人: 长芯盛(武汉)科技有限公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道九号光缆扩产(五期)光缆厂房(101号楼)388室
- 专利权人: 长芯盛(武汉)科技有限公司
- 当前专利权人: 长芯盛(武汉)科技有限公司,博创科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 430073 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷三路196号长飞科技园(二期)201号综合厂房3-4层
- 代理机构: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司
- 代理商 胡建平
- 主分类号: G01R31/00
- IPC分类号: G01R31/00
摘要:
本发明提供了一种用于USB线缆的高效集成测试方法和测试仪,通过将USB3.1测试设备、USB2.0测试设备和E‑Mark烧写器集成到一起同时完成USB3.1测试功能、USB2.0测试功能、E‑Mark芯片烧写及测试功能,将产品测试插拔次数减少到原来的1/3,有效的减少了产品连接器在测试插拔时造成损伤的概率,极大的提高测试设备的使用寿命。本发明通过测试设备的集成全面有效地覆盖USB线缆的功能、性能测试,提高了测试设备的测试效率,减少了量产测试时间和烧写时间,提升效率3倍以上;同时降低量产测试和烧写设备使用复杂性,降低了设备投入60%,缩减了工站数量,大幅度降低了生产和测试成本,提高了生产效率。
公开/授权文献
- CN113138317A 一种用于USB线缆的高效集成测试方法和测试仪 公开/授权日:2021-07-20