- 专利标题: 一种采用分光光度法测定氮化硼中硅含量的分析测试方法
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申请号: CN202110302456.3申请日: 2021-03-22
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公开(公告)号: CN113155759B公开(公告)日: 2023-03-17
- 发明人: 李涛 , 张力久 , 栗生辰 , 陈彩霞 , 邓楠 , 李甜 , 胡梦桥 , 纪博舒 , 李娜
- 申请人: 国合通用测试评价认证股份公司 , 国标(北京)检验认证有限公司
- 申请人地址: 北京市怀柔区雁栖经济开发区兴科东大街11号;
- 专利权人: 国合通用测试评价认证股份公司,国标(北京)检验认证有限公司
- 当前专利权人: 国合通用测试评价认证股份公司,国标(北京)检验认证有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市怀柔区雁栖经济开发区兴科东大街11号;
- 代理机构: 北京北新智诚知识产权代理有限公司
- 代理商 刘徐红
- 主分类号: G01N21/31
- IPC分类号: G01N21/31 ; G01N21/01
摘要:
本发明涉及一种采用分光光度法测定氮化硼中硅含量的分析测试方法,属于氮化硼化学分析技术领域。氮化硼样品溶解后产品中的硅转变为可溶性硅酸,在酸性溶液中可溶性硅酸与显色剂反应,生成多元杂多酸含硅体系。用还原剂将多元杂多酸含硅体系进行还原,所得产物吸光度在一定浓度范围内与多元杂多酸含硅体系含量呈正比,即可用分光光度计测量其吸光度,进而于工作曲线上计算出硅含量。本发明主要解决了氮化硼中硅含量测定问题,具有灵敏度高、选择性好、准确度高、适用浓度范围广、分析成本低、操作简便快速的优点,可以作为氮化硼中硅含量分析测试的常规方法。
公开/授权文献
- CN113155759A 一种采用分光光度法测定氮化硼中硅含量的分析测试方法 公开/授权日:2021-07-23
IPC分类: