发明公开
- 专利标题: 可降低残压比的氧化锌电阻片及其制备方法
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申请号: CN202110383203.3申请日: 2021-06-11
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公开(公告)号: CN113173784A公开(公告)日: 2021-07-27
- 发明人: 曹伟 , 万帅 , 谷山强 , 谭进 , 任鑫 , 姚政 , 刘新 , 杜雪松 , 刘子皓 , 王智凯
- 申请人: 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司 , 国网电力科学研究院有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网安徽省电力有限公司 , 上海大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞瑜路143号; ; ; ;
- 专利权人: 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司,国网电力科学研究院有限公司,国家电网有限公司,国网安徽省电力有限公司,上海大学
- 当前专利权人: 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司,国网电力科学研究院有限公司,国家电网有限公司,国网安徽省电力有限公司,上海大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞瑜路143号; ; ; ;
- 代理机构: 武汉开元知识产权代理有限公司
- 代理商 潘杰
- 主分类号: C04B35/453
- IPC分类号: C04B35/453 ; H01C7/112 ; H01C17/00 ; H01C17/28 ; H01C17/30 ; C04B35/622
摘要:
本发明公开了一种可降低残压比的氧化锌电阻片及其制备方法,该方法经准备氧化锌电阻片的原料、浆料的制备、坯体的制备和烧结四大步骤制备得到氧化锌电阻片;通过前预煅烧的方式将Mg2+和Al3+离子共同渗入ZnO晶粒内部,由于Mg2+离子粒径略小于Zn2+离子,可在ZnO晶格内形成拉应力,促进了Al3+离子的有效渗入,避免Al3+离子在ZnO晶界附近的富集,使Al3+离子向ZnO晶粒内部渗透,可有效降低ZnO晶粒电阻,且减小晶界Al3+离子浓度,这样便不会增大漏电流,所制备的氧化锌电阻片残压比和残压都有效降低。本发明工艺简单,易于控制,成本低廉。
公开/授权文献
- CN113173784B 可降低残压比的氧化锌电阻片及其制备方法 公开/授权日:2023-04-25
IPC分类: