- 专利标题: 一种芯片、验证装置、芯片验证方法和芯片验证系统
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申请号: CN202110585228.1申请日: 2021-05-27
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公开(公告)号: CN113239342B公开(公告)日: 2024-08-13
- 发明人: 刘杏肖 , 请求不公布姓名
- 申请人: 广州众诺微电子有限公司
- 申请人地址: 广东省广州市高新技术产业开发区科丰路31号华南新材料创新园G10栋202房
- 专利权人: 广州众诺微电子有限公司
- 当前专利权人: 广州众诺微电子有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省广州市高新技术产业开发区科丰路31号华南新材料创新园G10栋202房
- 主分类号: G06F21/44
- IPC分类号: G06F21/44
摘要:
本申请公开了一种芯片、验证装置、芯片验证方法和芯片验证系统,其中芯片验证方法包括:当获取到验证装置发送的第一验证指令时,获取存储于第一地址中的芯片UID号和第一数据;通过预置接口发送所述芯片UID号和所述第一数据至所述验证装置,使得所述验证装置根据所述芯片UID号和所述第一数据,进行所述第一验证指令对应的验证;当所述第一验证指令对应的验证结果为验证成功时,获取所述验证装置发送的第二验证指令;运行所述第二验证指令对应的第二数据,以进行所述第二验证指令对应的验证。解决了现有技术在对芯片进行验证时,需要使用多台验证装置,验证成本较高,且芯片需要在不同机器之间进行流转,验证耗时较长的技术问题。
公开/授权文献
- CN113239342A 一种芯片、验证装置、芯片验证方法和芯片验证系统 公开/授权日:2021-08-10