发明公开
- 专利标题： 芯片漏写电可编程熔丝的测试方法及装置
-
申请号： CN202110544085.X申请日： 2021-05-19
-
公开(公告)号： CN113284549A公开(公告)日： 2021-08-20
- 发明人: 郭远东
- 申请人： 展讯通信(上海)有限公司
- 申请人地址： 上海市浦东新区浦东张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
- 专利权人： 展讯通信(上海)有限公司
- 当前专利权人： 展讯通信(上海)有限公司
- 当前专利权人地址： 上海市浦东新区浦东张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
- 代理机构： 北京兰亭信通知识产权代理有限公司
- 代理商 孙峰芳
- 主分类号： G11C29/56
- IPC分类号： G11C29/56
摘要：
本发明提供一种芯片漏写电可编程熔丝的测试方法及装置，该测试方法包括：当应用待测芯片的电子设备第一次开机时，获取待测芯片的电可编程熔丝状态标志位；根据电可编程熔丝状态标志位判断电可编程熔丝是否写入数据；若电可编程熔丝未写数据，发出提醒信号。本发明能够尽早检查出芯片漏写电可编程熔丝的问题。
公开/授权文献
- CN113284549B 芯片漏写电可编程熔丝的测试方法及装置 公开/授权日：2022-05-31
