发明公开
- 专利标题: 硅基探测器及其制作方法
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申请号: CN202110367441.5申请日: 2021-04-06
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公开(公告)号: CN113299785A公开(公告)日: 2021-08-24
- 发明人: 许高博 , 翟琼华 , 丁明正 , 傅剑宇 , 孙朋 , 殷华湘 , 颜刚平 , 田国良
- 申请人: 中国科学院微电子研究所
- 申请人地址: 北京市朝阳区北土城西路3号
- 专利权人: 中国科学院微电子研究所
- 当前专利权人: 中国科学院微电子研究所
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区北土城西路3号
- 代理机构: 北京辰权知识产权代理有限公司
- 代理商 佟林松
- 主分类号: H01L31/107
- IPC分类号: H01L31/107 ; H01L31/0352 ; H01L31/18
摘要:
本发明提供了一种硅基探测器及其制作方法,该硅基探测器包括衬底以及设置在所述衬底上的器件结构层,所述器件结构层包括沿垂直所述衬底平面方向向上依次设置的吸收层、增益层、第一电荷层、第二电荷层和接触层;所述器件结构层还包括环状结区,所述环状结区位于所述吸收层上方,且套设在所述增益层、所述第一电荷层、所述第二电荷层和所述接触层的边缘外侧;所述环状结区与所述吸收层、第一电荷层和第二电荷层的掺杂类型均不同。该硅基探测器通过引入第二电荷层可以有效增加增益区的深度,提高器件的耗尽电压与击穿电压,获得合适的增益与较高的时间分辨,同时能够减少探测器对高能离子注入等极端工艺和设备的依赖。
公开/授权文献
- CN113299785B 硅基探测器及其制作方法 公开/授权日:2022-08-16