本发明属于微电子领域技术领域，尤其是针脚式电子器件属性值快速测试器，包括壳体，所述壳体的顶端设置有顶块，且顶块四周均为倾斜面，所述顶块的顶端设置的放置端，且放置端包括开设于顶块的检测条槽，所述检测条槽的两端均固定安装有探点块，且探点块顶端均开设有探点槽，所述顶块的两侧安装有提拉机构，所述壳体的内部固定安装有检测组件，且检测组件由电容检测模块、电感检测模块以及电阻检测模块组成，所述壳体内部靠近检测组件的一侧固定安装有中央处理器。本发明通过设置的水冷机构，能够利用半导体制冷器配合冷却液、水冷管的水冷作用，对中央处理器以及检测组件进行有效的降温处理，以避免其发生过热现象。