本申请公开了一种集成电路引脚检测方法、装置、终端及存储介质。本申请提供的集成电路引脚检测方法，对于训练集的合格样本与不合格样本采用不同的缺陷二值图处理方式，得到由两类缺陷二值图构成的缺陷图训练集，并利用该缺陷图训练集构建缺陷识别模型得到待测IC图像的待测缺陷二值图，结合获取的待测IC图像和IC引脚评估模型确定待测IC图像的引脚检测结果。解决了现有技术IC焊点检测只注重合格样本作为训练样本，忽略了不合格样本导致的检测准确度差的技术问题。