发明公开
CN113376065A 玻璃颗粒检查设备
审中-实审
- 专利标题： 玻璃颗粒检查设备
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申请号： CN202110509426.X申请日： 2021-05-11
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公开(公告)号： CN113376065A公开(公告)日： 2021-09-10
- 发明人: 李青 , 李赫然 , 王赛 , 王俊明 , 赵玉乐 , 张志刚 , 刘东阳 , 薛文明 , 周鹏
- 申请人： 山西光兴光电科技有限公司 , 东旭科技集团有限公司 , 东旭光电科技股份有限公司
- 申请人地址： 山西省太原市唐槐园区唐槐路96号山西圣逢茂汇科技有限公司综合楼7层701-702室; ;
- 专利权人： 山西光兴光电科技有限公司,东旭科技集团有限公司,东旭光电科技股份有限公司
- 当前专利权人： 山西光兴光电科技有限公司,东旭科技集团有限公司,东旭光电科技股份有限公司
- 当前专利权人地址： 山西省太原市唐槐园区唐槐路96号山西圣逢茂汇科技有限公司综合楼7层701-702室; ;
- 代理机构： 北京润平知识产权代理有限公司
- 代理商 岳永先; 邱成杰
- 主分类号： G01N15/02
- IPC分类号： G01N15/02
摘要：
本发明涉及玻璃制造领域，公开了一种玻璃颗粒检查设备，其中，所述玻璃颗粒检查设备包括颗粒检查机(10)和密封罩(20)，所述密封罩(20)罩设在所述颗粒检查机(10)外部，所述密封罩(20)包括可开闭的开口以允许玻璃进出所述密封罩(20)。密封罩能够将颗粒检查机密封罩设，使得颗粒检查机周围的区域呈相对封闭、稳定的状态，因而能够显著消除周围环境及其波动对颗粒检查机的检测精度的影响，从而提高玻璃颗粒检查精度。
