本发明提供了基于硅钢片性能的分类方法、系统、计算机和存储介质，通过抽样选取待分析硅钢片，获取待分析硅钢片的基准B‑H曲线和基准B‑P曲线，以及通过预设检测方法测得待分析硅钢片的样本B‑H曲线和样本B‑P曲线后，根据预设磁通密度监测范围分别选取基准B‑H曲线、基准B‑P曲线、样本B‑H曲线和样本B‑P曲线对应的B‑H基准样本点、B‑P基准样本点、B‑H待分析样本点和B‑P待分析样本点，并基于依此分别得到B‑H样本点距离与B‑P样本点距离分析待分析硅钢片的性能，以及根据分析结果对待分析硅钢片进行分类的方法，基于性能曲线的数据分析对硅钢片性能进行合理的评估分类，不仅实现了对硅钢片质量的有效监控，而且为其使用策略的制定提供可靠依据，保证产品质量的同时，为产品用料选择提供便利。