- 专利标题： 基于无线耳机充电盒的老化测试方法、上位机及老化柜
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申请号： CN202110738522.1申请日： 2021-06-30
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公开(公告)号： CN113484638B公开(公告)日： 2024-06-18
- 发明人: 李学鹏 , 冷明星 , 王丽
- 申请人： 深圳市豪恩声学股份有限公司
- 申请人地址： 广东省深圳市坪山区规划四路6号
- 专利权人： 深圳市豪恩声学股份有限公司
- 当前专利权人： 深圳市豪恩声学股份有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市坪山区规划四路6号
- 代理机构： 广州嘉权专利商标事务所有限公司
- 代理商 黄广龙
- 主分类号： G01R31/00
- IPC分类号： G01R31/00
摘要：
本申请公开了一种基于无线耳机充电盒的老化测试方法、上位机及老化柜。本申请的基于无线耳机充电盒的老化测试方法，针对不同类型的充电盒设计了通用的测试方法，并且整个测试过程不需要人工进行模式的切换与检测，量化了测试过程中的测试时间、充放电容量等参数，提高了测试的准确性，能够有效的拦截不良品，提高了产品进入市场后的可靠性。
公开/授权文献
- CN113484638A 基于无线耳机充电盒的老化测试方法、上位机及老化柜 公开/授权日：2021-10-08
