- 专利标题: 产品缺陷识别方法、装置、设备及可读存储介质
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申请号: CN202111083492.1申请日: 2021-09-16
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公开(公告)号: CN113538427B公开(公告)日: 2022-01-07
- 发明人: 李勇军 , 朱琦 , 杨光
- 申请人: 深圳市信润富联数字科技有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市罗湖区桂园街道老围社区深南东路5016号蔡屋围京基一百大厦A座2001-06
- 专利权人: 深圳市信润富联数字科技有限公司
- 当前专利权人: 深圳市信润富联数字科技有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市罗湖区桂园街道老围社区深南东路5016号蔡屋围京基一百大厦A座2001-06
- 代理机构: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
- 代理商 关向兰
- 主分类号: G06T7/00
- IPC分类号: G06T7/00 ; G06K9/62
摘要:
本申请公开了一种产品缺陷识别方法、装置、设备及可读存储介质,该方法包括步骤:获取待测产品的待测图片,并获取所述待测图片对应的样本图片;基于所述样本图片中的样本产品的对中数据,对所述待测图片进行对中处理,得到处理后待测图片;获取产品缺陷识别模型,并输入所述处理后待测图片至所述产品缺陷识别模型,得到产品缺陷识别结果;所述产品缺陷识别模型基于预设缺陷预设缺陷训练数据集对未训练产品缺陷识别模型进行迭代训练后得到。本申请使得待测图片进行缺陷识别所得到的缺陷识别结果更为准确,降低了识别产品的缺陷时的误差。
公开/授权文献
- CN113538427A 产品缺陷识别方法、装置、设备及可读存储介质 公开/授权日:2021-10-22