Invention Grant
- Patent Title: 一种温度对磁电天线性能影响的评估方法
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Application No.: CN202110838971.3Application Date: 2021-07-23
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Publication No.: CN113552423BPublication Date: 2022-10-04
- Inventor: 李娜 , 李向阳 , 郑彬 , 田艳伟 , 王岩 , 包建强 , 张璐璐
- Applicant: 西安电子科技大学
- Applicant Address: 陕西省西安市太白南路2号
- Assignee: 西安电子科技大学
- Current Assignee: 西安电子科技大学
- Current Assignee Address: 陕西省西安市太白南路2号
- Agency: 陕西电子工业专利中心
- Agent 陈宏社; 王品华
- Main IPC: G01R29/10
- IPC: G01R29/10
Abstract:
本发明提出了一种温度对磁电天线性能影响的评估方法,实现步骤为:在暗室中连接评估系统;用矢量网络分析仪VNA对参考喇叭天线的S21参数进行测量;用磁电天线替换参考喇叭天线,在恒温数显加热台上给磁电天线提供不同的环境温度,并通过矢量网络分析仪VNA对磁电天线在不同温度值下的S11和S21参数进行测量;计算不同温度值下磁电天线的谐振频率增益并进行归一化;最后绘制温度对磁电天线性能影响的曲线图。本发明旨在通过对磁电天线的增益、谐振频率、带宽随温度变化的评估,实现温度对磁电天线电性能的影响机理分析。
Public/Granted literature
- CN113552423A 一种温度对磁电天线性能影响的评估方法 Public/Granted day:2021-10-26
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