- 专利标题： 一种基于曲面屏的相位偏折测量方法、系统及终端
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申请号： CN202110812317.5申请日： 2021-07-19
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公开(公告)号： CN113654765B公开(公告)日： 2023-05-05
- 发明人: 宋展 , 韩浩
- 申请人： 中国科学院深圳先进技术研究院
- 申请人地址： 广东省深圳市南山区深圳大学城学苑大道1068号
- 专利权人： 中国科学院深圳先进技术研究院
- 当前专利权人： 中国科学院深圳先进技术研究院
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市南山区深圳大学城学苑大道1068号
- 代理机构： 深圳中一联合知识产权代理有限公司
- 代理商 张全文
- 主分类号： G01M11/02
- IPC分类号： G01M11/02 ; G01M11/04
摘要：
本申请适用于光学测量技术领域，提供一种基于曲面屏的相位偏折测量方法、系统及终端，其中方法包括：在所述曲面显示屏上对设定数量的相移条纹图进行依次显示，控制图像采集器对待测物体进行图像采集，分别得到与每一相移条纹图对应的第一虚像图像，基于曲面显示屏与图像采集器之间的相对位姿关系和第一虚像图像，采用相位偏折术对待测物体进行三维面型重建。该方案能够实现对曲率较大的物体表面完整相位信息的获取，提升高反射物体三维形貌的重建效果。
公开/授权文献
- CN113654765A 一种基于曲面屏的相位偏折测量方法、系统及终端 公开/授权日：2021-11-16
