发明授权
- 专利标题: 低冲击分离螺母的机构分离可靠性分析方法
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申请号: CN202110919732.0申请日: 2021-08-11
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公开(公告)号: CN113673051B公开(公告)日: 2022-08-30
- 发明人: 牛磊 , 严楠 , 董海平 , 叶耀坤 , 马兵
- 申请人: 北京理工大学
- 申请人地址: 北京市海淀区中关村南大街5号院
- 专利权人: 北京理工大学
- 当前专利权人: 北京理工大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区中关村南大街5号院
- 代理机构: 北京智桥联合知识产权代理事务所
- 代理商 金光恩
- 主分类号: G06F30/17
- IPC分类号: G06F30/17 ; G06F30/27 ; G06K9/62 ; G06F119/02
摘要:
本发明公开了一种低冲击分离螺母机构分离可靠性分析方法,该方法包括:对低冲击分离螺母机构分离的主要失效模模式进行分析,建立所述失效模式的极限状态函数,并确定影响分离的随机变量及其分布类型;根据主要失效模式的极限状态函数构建初始Kriging模型;计算扩展失效概率及相应估计值的变异系数;计算修正因子及估计值的变异系数;根据所述扩展失效概率及修正因子计算失效概率,得到多失效模式下低冲击分离螺母机构分离的可靠度。利用本发明,可以准确地确定分离螺母机构分离的可靠性。
公开/授权文献
- CN113673051A 低冲击分离螺母的机构分离可靠性分析方法 公开/授权日:2021-11-19