发明公开
- 专利标题: 一种光谱发射率的测量方法及系统
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申请号: CN202110777853.6申请日: 2021-07-09
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公开(公告)号: CN113686451A公开(公告)日: 2021-11-23
- 发明人: 吴军 , 马建光 , 刘超 , 李大成 , 王安静 , 李扬裕 , 崔方晓
- 申请人: 中国科学院合肥物质科学研究院 , 中国人民解放军32801部队
- 申请人地址: 安徽省合肥市董铺岛;
- 专利权人: 中国科学院合肥物质科学研究院,中国人民解放军32801部队
- 当前专利权人: 中国科学院合肥物质科学研究院,中国人民解放军32801部队
- 当前专利权人地址: 安徽省合肥市董铺岛;
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 林凡燕
- 主分类号: G01J5/52
- IPC分类号: G01J5/52 ; G01J3/443 ; G01N25/00 ; G01J5/08
摘要:
本发明提供一种光谱发射率的测量方法及系统,所述光谱发射率的测量方法包括:采用红外光源照射目标;获取所述目标的光谱辐射亮度和环境光谱辐射亮度;获取所述目标在多个温度下的黑体辐射亮度;通过所述光谱辐射亮度、所述环境光谱辐射亮度、以及多个所述黑体辐射亮度,获取多个温度下,所述目标的光谱发射率曲线;获取每个所述光谱发射率曲线的粗糙度指标,并将所述粗糙度指标最小时的对应的温度作为最佳温度;以及获取所述最佳温度时,所述目标的光谱发射率。本发明提供的光谱发射率的测量方法,能够较的精确获取目标的光谱发射率。
公开/授权文献
- CN113686451B 一种光谱发射率的测量方法及系统 公开/授权日:2023-04-07