- 专利标题: 脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置及方法
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申请号: CN202110898621.6申请日: 2021-08-05
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公开(公告)号: CN113721284B公开(公告)日: 2024-05-07
- 发明人: 谢彦召 , 吕泽琦 , 陈晓宇 , 苟明岳
- 申请人: 西安交通大学
- 申请人地址: 陕西省西安市咸宁西路28号
- 专利权人: 西安交通大学
- 当前专利权人: 西安交通大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市咸宁西路28号
- 代理机构: 西安通大专利代理有限责任公司
- 代理商 范巍
- 主分类号: G01T1/11
- IPC分类号: G01T1/11 ; G01T1/36 ; G01R19/00 ; G01R15/18
摘要:
本发明公开了一种脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置及方法,属于脉冲功率技术测量领域,具有吸收辐射场内的电子和测量辐射场内光子数与电子数之比的功能,包括二极管、真空实验腔、实验腔后端盖板及剂量测量系统和电流测量系统。二极管与真空实验腔连接为一体,实验腔后端盖板密封连接真空实验腔,剂量测量系统测量脉冲X射线的剂量分布;电流测量系统测量辐射场内电子;由剂量和能谱计算得到光子数,电流计算得到电子数,获得光子数与电子数之比。本发明在吸收辐射场中电子的同时对光子影响较小,有效减小了脉冲X射线效应试验中电子的干扰,建立了辐射场内的光子数与电子数之比测量系统,有助于后续试验中对脉冲X射线效应进行更准确的分析。
公开/授权文献
- CN113721284A 脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置及方法 公开/授权日:2021-11-30