发明公开
CN1137239A 发射γ和X射线同位素的改进定量测定法
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- 专利标题： 发射γ和X射线同位素的改进定量测定法
- 专利标题（英）： Improved quantitation of gamma and X-ray emitting isotopes
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申请号： CN94194455.7申请日： 1994-10-12
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公开(公告)号： CN1137239A公开(公告)日： 1996-12-04
- 发明人: 安德泽·K·德鲁克伊尔
- 申请人： 比奥特雷斯公司
- 申请人地址： 美国弗吉尼亚州
- 专利权人： 比奥特雷斯公司
- 当前专利权人： 比奥特雷斯公司
- 当前专利权人地址： 美国弗吉尼亚州
- 代理机构： 柳沈知识产权律师事务所
- 代理商 范明娥
- 优先权： 08/133,919 1993.10.12 US
- 国际申请： PCT/US1994/11603 1994.10.12
- 国际公布： WO1995/10308 EN 1995.04.20
- 进入国家日期： 1996-06-11
- 主分类号： A61K51/04
- IPC分类号： A61K51/04 ; C12Q1/68 ; G01N23/00 ; G01N33/534 ; G01N33/569 ; G01T1/00 ; G01T1/20 ; G01T1/161 ; G21H5/02 ; H01J47/00 ; H01L25/00 ; A61K123/00
摘要：
对于利用核捕获内层电子的同位素衰减，可以出现X射线和γ光子的符合发射。X射线由外层电子下降充填S层而发生，γ光子由受激的子核跃迁至较低能级而引起，本发明是一种符合γ和X射线探测器(CGXD)，它通过符合计数和其它的本底抑制测量的协同组合而取得异常的本底抑制。从而由单个γ计数器记录的本底约为20-40计数/分，而最适用电子捕获放射性同位素I125的CGXD具有大约1计数/天的本底。
