Invention Publication
- Patent Title: 一种电路和包括其的测试装置
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Application No.: CN202111107426.3Application Date: 2021-09-22
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Publication No.: CN113740615APublication Date: 2021-12-03
- Inventor: 文超平 , 舒扬 , 徐阳 , 陈爱诗 , 王贤娜
- Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 南京京东方显示技术有限公司
- Applicant Address: 北京市朝阳区酒仙桥路10号;
- Assignee: 京东方科技集团股份有限公司,南京京东方显示技术有限公司
- Current Assignee: 京东方科技集团股份有限公司,南京京东方显示技术有限公司
- Current Assignee Address: 北京市朝阳区酒仙桥路10号;
- Agency: 北京正理专利代理有限公司
- Agent 张帆
- Main IPC: G01R27/26
- IPC: G01R27/26 ; G01R27/20

Abstract:
本发明的一个实施例公开了一种电路和测试装置,所述电路用于测量测试系统的对地电容和电阻,包括:测量点,在测量周期中所述测试系统的测试探头与所述测量点电接触;上拉模块,在测量周期的第一阶段,为所述测量点提供第一电位V1;自举模块,在测量周期的第二阶段,将所述测量点的电位从第一电位V1拉升到第二电位V2,其中,所述测量点在测量周期的第三阶段通过所述测试系统的对地电阻放电以使得电位从第二电位V2下降至第三电位V3;下拉模块,在测量周期的第四阶段,将所述测量点的电位从所述第三电位V3下拉至第四电位V4。
Public/Granted literature
- CN113740615B 一种电路和包括其的测试装置 Public/Granted day:2024-07-02
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