本发明公开了基于缺陷微波光子晶体的等离子体电磁参数测量方法，包括如下步骤：(1)构建一维等离子体缺陷微波光子晶体结构，利用传输矩阵法模拟等离子体电磁参数与等离子体缺陷微波光子晶体缺陷透射峰的频率偏移量和峰值之间的关系；(2)测量等离子体缺陷微波光子晶体的透射谱，通过所述偏移量和峰值反演被测等离子体电磁参数。本发明通过测量手段得到缺陷透射峰的强度与频率位置，反演出微波光子晶体等离子体缺陷的电磁参数，实现了等离子体电磁参数的非接触式测量。