- 专利标题: 深空探测航天器高温隔热屏性能测试装置及方法
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申请号: CN202111216067.5申请日: 2021-10-19
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公开(公告)号: CN113928604B公开(公告)日: 2024-04-09
- 发明人: 庞乐 , 代善良 , 王晓占 , 赵凯璇 , 张鹏 , 季琨 , 孙敬文
- 申请人: 上海卫星装备研究所
- 申请人地址: 上海市闵行区华宁路251号
- 专利权人: 上海卫星装备研究所
- 当前专利权人: 上海卫星装备研究所
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区华宁路251号
- 代理机构: 上海段和段律师事务所
- 代理商 李佳俊; 郭国中
- 主分类号: B64G7/00
- IPC分类号: B64G7/00 ; G01M99/00 ; G01N25/18 ; G01N25/20 ; G01N25/00
摘要:
本发明提供了一种深空探测航天器高温隔热屏性能测试装置及方法,包括待测高温隔热屏,还包括试验台架、灯阵组件、反射屏、液氮真空罐组件、加热测温组件及质谱测试仪组件;所述待测高温隔热屏、所述反射屏及所述灯阵组件均设置在所述试验台架上,所述反射屏位于所述待测高温隔热屏和所述灯阵组件之间;所述试验台架设置在所述液氮真空罐组件内,所述加热测温组件连接所述待测高温隔热屏,所述质谱测试仪组件连接所述待测高温隔热屏。本发明安装方便,应用范围广,适用于对高温隔热屏或其他种类隔热组件进行不同温区特别是高温区测试。
公开/授权文献
- CN113928604A 深空探测航天器高温隔热屏性能测试装置及方法 公开/授权日:2022-01-14