本发明提出一种IGBT最小死区时间的试验确定方法，包括：在空载情况下给上IGBT和下IGBT施加控制信号，将两控制信号的死区时间逐渐减小，直至出现直通电流，此时的两控制信号的死区时间即为空载下的最小死区时间T死区‑空载；在带载运行工况下，按照所需负载，给被试单元的上IGBT T1、下IGBT T2，陪试单元的上IGBT T3、下IGBT T4施加控制信号，逐渐减小死区时间，直至出现上IGBT T1的电流IT1、下IGBT T2的电流IT2都有异常的直通电流，记录此时两控制信号的死区时间为T死区‑带载；考虑安全裕量，计算实际使用死区时间：T死区＝A*Max(T死区‑空载，T死区‑带载)；利用直接试验的手段测试出最小死区时间，进而设置最合理的死区时间，以解决上述背景技术中存在的问题。