本申请提供一种片上系统芯片、测试方法及测试系统，涉及集成电路技术领域。该片上系统芯片包括：导出模块、多个电路模块以及多个数据选择器；每个电路模块中包含有至少一个扫描链，每个扫描链由多个扫描寄存器串联形成，每个扫描链各扫描寄存器的时钟引脚连接一个数据选择器的输出引脚，各扫描寄存器的扫描使能端并联在一起，根据扫描使能信号进入测试模式；现场模式输出引脚连接数据选择器的控制引脚，数据选择器的一个输入引脚连接内部时钟，另一个输入引脚连接现场时钟输出引脚，最后一个扫描寄存器的输出引脚连接现场输入引脚，现场输出引脚用于输出采集到的目标电路模块中每个扫描链上各扫描寄存器内的状态数据。