发明公开
- 专利标题: 一种发光二极管的绝缘性检测装置及其检测方法
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申请号: CN202111400538.8申请日: 2021-11-22
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公开(公告)号: CN114035006A公开(公告)日: 2022-02-11
- 发明人: 李晓辉 , 曹锡文 , 石海莲 , 王红 , 田艳秋
- 申请人: 天津天星电子有限公司
- 申请人地址: 天津市滨海新区经济技术开发区
- 专利权人: 天津天星电子有限公司
- 当前专利权人: 天津天星电子有限公司
- 当前专利权人地址: 天津市滨海新区经济技术开发区
- 代理机构: 北京沁优知识产权代理有限公司
- 代理商 郭衍飞
- 主分类号: G01R31/12
- IPC分类号: G01R31/12 ; G01R31/44
摘要:
本发明提供一种发光二极管的绝缘性检测装置,包括用于对发光二极管进行角度识别的识别装置、夹持装置以及对发光二极管进行角度调节的角度校正装置;所述夹持装置包括夹持组件和升降组件,实现对不同角度的发光二极管的夹持与放置;所述角度校正装置包括水平转动组件和翻转组件,以实现对发光二极管角度的校正。本发明能够通过夹持装置与角度校正装置,实现对发光二极管的检测位置的校正,保证了对发光二极管检测的精准度;通过识别装置与控制装置,实现了对发光二极管的检测角度与位置的自动校正,保证了检测接头与发光二极管的检测位置的相对应,避免了对非绝缘位置的误检,增加了对发光二极管绝缘性测试的准确性。