摘要：
本发明涉及一种基于泵浦探测分析确定金属电子弹道深度的方法，属于超快检测领域。该方法采用超连续白光泵浦探测对金属薄膜进行膜厚依赖的测试，后选择峰值信号动力学进行去卷积三指数拟合得到分别对应电子‑电子散射、电子‑声子散射和热扩散过程的时间常数，通过电‑电散射时间常数的膜厚依赖趋势分析确定电子弹道深度。这种方法为确定各种条件下的金属电子弹道深度提供了一种简单、精确且严谨的测试分析方案，并且对于各类金属具有普适性。
公开/授权文献
- CN114046736A 一种基于泵浦探测分析确定金属电子弹道深度的方法 公开/授权日：2022-02-15
