发明公开
- 专利标题: 基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法
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申请号: CN202010777849.5申请日: 2020-08-05
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公开(公告)号: CN114063193A公开(公告)日: 2022-02-18
- 发明人: 赵荣华 , 张威 , 贾会冲 , 曹桐生 , 赵兰 , 王路 , 丁烽娟
- 申请人: 中国石油化工股份有限公司 , 中国石油化工股份有限公司华北油气分公司
- 申请人地址: 北京市朝阳区朝阳门北大街22号;
- 专利权人: 中国石油化工股份有限公司,中国石油化工股份有限公司华北油气分公司
- 当前专利权人: 中国石油化工股份有限公司,中国石油化工股份有限公司华北油气分公司
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区朝阳门北大街22号;
- 代理机构: 郑州睿信知识产权代理有限公司
- 代理商 史萌杨
- 主分类号: G01V13/00
- IPC分类号: G01V13/00
摘要:
本发明属于石油天然气勘探开发技术领域,具体涉及一种基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法。该方法首先确定砂岩段的深度;然后确定砂岩段的非扩径段和扩径段;接着对非扩径段的实测数据进行回归分析,所述实测数据包括实测密度数据以及对应深度的实测深侧向电阻率、实测自然伽马值,得到非扩径段关系模型,并将非扩径段关系模型作为扩径段关系模型;最后根据扩径段的深侧向电阻率测井曲线和自然伽马测井曲线,以及扩径段关系模型,得到扩径段校正后的密度测井曲线。本发明确定的地层密度更准确,更接近真实的地层密度测井值。该方法可操作性强,影响因素小,校正准确度高,可以提高油气田勘探和开发中致密砂岩气层识别成功率。